测试与光电工程学院

超声C扫描特征成像系统

来源: 发布时间:2019-11-07 21:07:39 浏览次数: 【字体:

一、技术简介:

系统由机械扫查机构、OLYMPUS5077超声波仪、数据采集卡和软件组成。扫描装置可以存储超声A扫描全序列波形,通过数字信号处理方法提取特征值,形成C扫描图像,清晰展现缺陷形态。

由全序列A扫波形可以根据位置成像,对检测工件进行分层显示,可以对6mm10层碳纤维复合板显示各层铺设放式。

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二、主要技术指标:

数据采集率可达1G/s,最大扫查速度6000mm/min

三、联系方式:

联系人:吴伟

通讯地址:南昌市丰和南大道696

邮编:330063

E-Mail:  wuwei@nchu.edu.cn

办公电话: 0791-3953483

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